即是IC測(cè)試治具的基礎(chǔ)結(jié)構(gòu),頂上是IC芯片,中心是探針,通過準(zhǔn)確定位探針能夠很準(zhǔn)確測(cè)觸摸零點(diǎn)幾的焊盤和錫球。
由于IC測(cè)試治具適用于功能性測(cè)試的,那么有很多特別的功能芯片,就需要不一樣的規(guī)劃,例如大電流,需要規(guī)劃大電流探針或許大電流的觸摸塊;例如,高頻,需要同軸連接器,或許說(shuō)需要需要做好阻隔;又例如,數(shù)模轉(zhuǎn)換芯片,需要做好數(shù)模地的切割,所以做治具的時(shí)分需要判斷PCB的地切割狀況來(lái)規(guī)劃。
FCT測(cè)試治具的針選用對(duì)治具成本聯(lián)系大,現(xiàn)在測(cè)試探針分國(guó)產(chǎn)、臺(tái)灣香港、進(jìn)口三種。進(jìn)口產(chǎn)品一般是德國(guó)、美國(guó)、日本的產(chǎn)品,品牌有INGUN、TCI、日電、華榮、中探、亞探等等。測(cè)試探針的質(zhì)量主要體現(xiàn)在原料、鍍層、彈簧、套管的直徑精度及制造工藝。現(xiàn)在包含國(guó)內(nèi)的產(chǎn)品其原料許多用進(jìn)口原料,所以除非是偷工減料一般探針原料問題不是很大,針及套管的直徑精度方面國(guó)內(nèi)與臺(tái)灣香港的產(chǎn)品差不多。
IC測(cè)試治具探針的選用對(duì)治具本更大,現(xiàn)在測(cè)試探針分國(guó)產(chǎn)、臺(tái)灣香港、進(jìn)口三種。一般進(jìn)口產(chǎn)品是德國(guó)、美國(guó)、日本的產(chǎn)品,檢測(cè)探頭的質(zhì)量主要體現(xiàn)在材料、涂層、彈簧、套管的直徑和生產(chǎn)過程中?,F(xiàn)在,國(guó)內(nèi)許多產(chǎn)品的進(jìn)口材料,彈簧和進(jìn)口產(chǎn)品比國(guó)內(nèi)的好許多的涂層質(zhì)量,臺(tái)灣與香港比國(guó)內(nèi)略微好。其主要原因是,在技術(shù)水平上差異,國(guó)內(nèi)探針涂層容易掉落。假如一個(gè)生產(chǎn)測(cè)試夾具使用時(shí)間和頻率超越1500萬(wàn)倍以上的挑選進(jìn)口產(chǎn)品是比較合適的,但進(jìn)口的探頭價(jià)格更貴重。