1、根據(jù)測試要求和測試板,選擇好控制方式后就可以進行治具的結(jié)構(gòu)設(shè)計了,可以設(shè)計載板、壓板、連接器模塊等,治具的載板/壓板避位合理,在對產(chǎn)品測試時有相應(yīng)的保護措施避免損壞測試板。
2、治具的定位準確,連接器的對接應(yīng)該暢順。
3、治具盒內(nèi)布局合理,布線和安裝控制系統(tǒng)的空間充足。
4、光纖/MIC/SPK/SIM卡模擬插卡位應(yīng)預(yù)留,且位置準區(qū)。
5、治具預(yù)留的接口位置應(yīng)正確,足夠,布局合理。
6、治具箱體鎖合應(yīng)采用箱包扣或者壓扣等方式便于更換部件和維護。
FCT測試治具的針選用對治具成本聯(lián)系大,現(xiàn)在測試探針分國產(chǎn)、臺灣香港、進口三種。進口產(chǎn)品一般是德國、美國、日本的產(chǎn)品,品牌有INGUN、TCI、日電、華榮、中探、亞探等等。測試探針的質(zhì)量主要體現(xiàn)在原料、鍍層、彈簧、套管的直徑精度及制造工藝。現(xiàn)在包含國內(nèi)的產(chǎn)品其原料許多用進口原料,所以除非是偷工減料一般探針原料問題不是很大,針及套管的直徑精度方面國內(nèi)與臺灣香港的產(chǎn)品差不多。
IC測試治具探頭一般有多種標準。針主要由三部分組成:一部分是針管,主要用銅合金鍍金;另一部分是彈簧,主要用鋼琴絲和彈簧鋼鍍金;第三部分是針,主要用工具鋼(SK)鍍鎳或鍍金。上述三個部分組裝成探針。
IC測試治具的探針主要在這里同享。此外,不同包裝形式的探頭的標準也不同。為了確保探頭符合要求,有必要對符合要求的探頭類型進行認證,確保實驗順利完成。探針是集成電路測試中的一個重要組成部分,因此,為了確保測試的性能,我們應(yīng)該愈加注重探針的選擇和購買。